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TransMIT-Projektbereich für werkstoffkundliche Untersuchung von Dentalprodukten
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TransMIT-Projektbereich für werkstoffkundliche Untersuchung von Dentalprodukten
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TransMIT-Zentrum
für massenspektrometrische Entwicklungen -
TransMIT-Projektbereich für Hochfrequenz- und Lasertechnik
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TransMIT-Zentrum
für massenspektrometrische Entwicklungen -
TransMIT-Projektbereich für virtuelle Produktentwicklung und Rapid Prototyping
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TransMIT-Zentrum für Vakuumtechnik
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TransMIT-Projektbereich für Hochfrequenz- und Lasertechnik
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TransMIT-Projektbereich für virtuelle Produktentwicklung und Rapid Prototyping
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TransMIT-Projektbereich für werkstoffkundliche Untersuchung von Dentalprodukten
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TransMIT-Zentrum für adaptive Kryotechnik und Sensorik
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TransMIT-Projektbereich für werkstoffkundliche Untersuchung von Dentalprodukten
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TransMIT-Projektbereich für werkstoffkundliche Untersuchung von Dentalprodukten
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TransMIT-Zentrum für adaptive Kryotechnik und Sensorik
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TransMIT-Projektbereich für werkstoffkundliche Untersuchung von Dentalprodukten
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TransMIT-Zentrum für adaptive Kryotechnik und Sensorik
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TransMIT-Zentrum
für massenspektrometrische Entwicklungen -
TransMIT-Projektbereich für Hochfrequenz- und Lasertechnik
TransMIT Project Division for Surface Nanoanalytics
Institut für Angewandte Physik
D-35392 Giessen
- Surface characterization on the nanoscale by atomic force microscopy in various conditions (liquids, air, ultrahigh vacuum)
- Tribological characterization (friction and wear) of materials on the nanometer scale
- Characterization of ion transport in solid ion conductors in nanoscale volumes
- Fabrication and analysis of functional molecular films under ultrahigh vacuum conditions with atomic precision
- Design and fabrication of special purpose probes for atomic force microscopy (tuning fork sensor with atomically defined apex, colloidal probes)
- Scientific consulting
- Manufacturers of nanotechnological materials
- User groups of atomic force microscopes
- Research Institutions
Prof. Dr. André Schirmeisen
TransMIT-Projektbereich für Oberflächen-Nanoanalytik
Institut für Angewandte Physik
35392 Gießen
- Oberflächencharakterisierung auf der Nanoskala mittels Rasterkraftmikroskopie in verschiedenen Umgebungsbedingungen (Flüssigkeiten, Luft, Ultrahochvakuum)
- Tribologische Charakterisierung (Reibung und Verschleiß) von Materialien auf der Nanometerskala
- Charakterisierung der Leitfähigkeit von Ionen in Festkörperionenleitern innerhalb nanoskaliger Volumina
- Herstellung und Analyse von funktionalen molekularen Schichten unter Ultrahochvakuumbedingungen mit atomarer Präzision
- Design und Herstellung von Spezialsonden für die Rasterkraftmikroskopie (Stimmgabelsensor mit atomar charakterisiertem Apex, Kolloidsensoren)
- Wissenschaftliche Beratung
- Hersteller von nanotechnologischen Materialien
- Nutzer von Kraftmikroskopen
- Forschungseinrichtungen